立博官方网站

您的位置: 首页 > 产品中心 > 美国TSI > TSI灰霾监测系统
  • NANOSCAN SMPS3910美国TSI纳米颗粒粒径分析仪NANOSCAN SMPS3910
    美国TSI纳米颗粒粒径分析仪NANOSCAN SMPS3910 这一革命性的粒度符合一个 TSI SMPS ™粒径谱仪在一个随身携带的包是一个篮球大小。使用方便,重量轻,电池供电的粒径谱仪,使研究人员里是否有更多的,收集有价值的纳米大小的数据。来自 TSI 的核心技术,这里是否有粒径谱仪是一个创新的,具有成本效益的解决方案,为实时的纳米尺寸的测量。
    更新时间:2022-11-10厂商性质:代理商
    现在联系
  • 3938美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪分析仪
    美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪分析仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所( NIST )使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。电迁移率粒径谱仪是一个谨慎的粒径谱仪技术,数浓度没有假设的粒度分布的形状直接测量。该方法是独立的颗粒或流体的折射率。
    更新时间:2022-11-10厂商性质:代理商
    现在联系
  • 3332美国TSI气溶胶稀释器3332粉尘监测仪
    美国TSI气溶胶稀释器3332粉尘监测仪 降低高浓度气溶胶的粒子浓度,提供代表性样本,满足光学颗粒物粒径谱仪 3330 ( OPS )的进样浓度要求,是 OPS 的附件 . 稀释比 100 比 1 和 10 比 1 。
    更新时间:2022-11-10厂商性质:代理商
    现在联系
  • 美国TSI3330美国TSI3330气溶胶粒径谱仪监测仪
    美国TSI3330气溶胶粒径谱仪监测仪(OPS)是一款轻型便携式装置,它采用单粒子计数技术,能够提供快速精确的粒子浓度和粒径分布检测。OPS凭借40多年的气溶胶仪器设计经验,采用的 120° 光收集光学系统和精致的电子处理装置,从而获得精确的高质量数据。严格的工厂校准标准确保了检测精度。3330光学颗粒物粒径谱仪可单独使用,也可置于TSI的防水环保箱内。
    更新时间:2022-11-10厂商性质:代理商
    现在联系
共 4 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
Contact Us
  • QQ:2238902621
  • 邮箱:2684401195@qq.com
  • 传真:86-0592-5751182-808
  • 地址:福建省厦门市湖里区火炬高新技术开发区新丰二路8号日华立博官方网站3F-310

扫一扫  微信咨询

©2023 立博(中国)有限公司-官方网站 版权所有        技术支持:    Sitemap.xml    总访问量:285038