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美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪分析仪

简要描述：美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪分析仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所（ NIST ）使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。电迁移率粒径谱仪是一个谨慎的粒径谱仪技术，数浓度没有假设的粒度分布的形状直接测量。该方法是独立的颗粒或流体的折射率。

  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2022-11-10
  • 访  问  量：1725
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品牌TSI/美国

美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪分析仪

特点和优点

高分辨率数据：多达 167 个通道

广泛的尺寸范围：从 2.5 nm 到 1000 nm

ISO 15900:2009 兼容

快速测量：＜ 10 秒扫描

宽的浓度范围内， 107 个颗粒每立方厘米

zui大的灵活性?组件的设计

没有电脑的操作所需的?触摸屏控制

易于安装与不安装工具和自动发现部件

离散粒子测量：适用于多模样本

独立的颗粒和流体的光学性质

宽范围的系统的选择：水或丁醇 CPC 选择；传统的或非放射性中和剂的选择

美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪分析仪

应用

纳米技术研究和材料的合成

大气研究和环境监测

燃烧和发动机排气的研究

室内空气质量的测量

核 / 冷凝的研究

吸入毒理学研究

内容包括

静电分类器与您选择的 DMA 柱

气溶胶仪器 ? 软件

数据采集计算机必须单独购买。


纳米技术研究和材料的合成

大气研究和环境监测

燃烧和发动机排气的研究

室内空气质量的测量

核 / 冷凝的研究

吸入毒理学研究

内容包括

静电分类器与您选择的 DMA 柱

气溶胶仪器 ? 软件

数据采集计算机必须单独购买。


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